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Table of Contents
33(suppl.2) 1998
33(2) 1998.07
- 化合物半導体デバイス評価における電子顕微鏡法の寄与
p.68~74
- 高性能電界放出電子銃とその電子線干渉法への応用
p.75~81
- 超高真空SEMによる表面現象のその場観察
p.82~86
- 力学現象の原子直視観察
p.87~92
- 脳性マラリア感染赤血球の微細構造
p.93~98
33(3) 1998.11
- 収束電子回折法の発展--精密構造解析
p.142~150
- アポトーシス--胸腺T細胞のアポトーシスの場としての胸腺ナース細胞
p.151~158
- 成長表面のラフニングとスケーリング解析
p.159~165
- 電子ビーム照射に伴う絶縁物試料の帯電現象のシミュレーション
p.166~172
- 電子線3波干渉法とその電磁場観察への応用
p.173~178
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 雑誌
- ISSN
- 0417-0326
- ISSN-L
- 0417-0326
- Title
- Title Transcription
- デンシ ケンビキョウ
- Volume
- 33(2)-33(3) 19980700-19981100(SUPPL.共)
- Author/Editor
- 「電子顕微鏡」編集委員会 編
- Author Heading
- 日本顕微鏡学会 ニホン ケンビキョウ ガッカイ
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 1998