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Table of Contents
29(4) (通号 160) 2007.7
- 先端LSI技術と信頼性
p.190~233
- 先端LSIにおける配線技術と信頼性 (先端LSI技術と信頼性)
p.190~197
- 高誘電率ゲート絶縁膜の信頼性 (先端LSI技術と信頼性)
p.198~205
- 先端LSIにおけるNBTIの故障物理と評価 (先端LSI技術と信頼性)
p.206~211
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 雑誌
- ISSN
- 0919-2697
- ISSN-L
- 0919-2697
- Title
- Title Transcription
- シンライセイ : ニホン シンライセイ ガッカイシ
- Volume
- 29巻4号(通号160) 2007年7月
- Author Heading
- 日本信頼性学会 ニホン シンライセイ ガッカイ ( 00545947 )Authorities日本信頼性技術協会 ニホン シンライセイ ギジュツ キョウカイ ( 001296021 )Authorities
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2007
- Publication Date (W3CDTF)
- 2007