大阪大学極限科学研究センター報告書 = Report Kyokugen

• Material Type: 雑誌
• Title: 大阪大学極限科学研究センター報告書
• Title Transcription: オオサカ ダイガク キョクゲン カガク ケンキュウ センター ホウコクショ
• Volume: (8) 2003
• Author/Editor: 大阪大学極限科学研究センター 編
• Author/Editor (Alternative Title): Research Center for Materials Science at Extreme Conditions, Osaka University
• Author Heading: 大阪大学極限科学研究センター オオサカ ダイガク キョクゲン カガク ケンキュウ センター ( 01026224 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: 豊中 : 大阪大学極限科学研究センター
• Publication Date: 2003
• Publication Date (W3CDTF): 2003
• Year and volume of publication: No. 1 (1996)-no. 10 (2005)
• Size: 30cm
• Alternative Title: Report Kyokugen Report Kyokugen; Report Kyokugen; Report
• ISSN (Periodical Title): 1344-2546
• ISSN-L (Periodical Title): 1344-2546
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn; eng
• NDLC: ZM35
• Note (General): 本タイトル等は最新号による; 並列タイトル変遷: Report / Research Center for Materials Science at Extreme Conditions, Osaka University (no. 1-no. 6)
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Z15-B127
• Related Material: 関連資料; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000008973332
• Replaces: 継続前; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000077597
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000102060; http://id.ndl.go.jp/bib/000000102060
• Cataloging Rule: National Diet Library Cataloging Rules for Serials

Table of Contents

Ion Beam Induced Epitaxial Crystallization of Silicon Implanted with Heavy Ions

Development of Nanoprobe TOF-RBS System for Semiconductor Process

Nanometer resolution three-dimensional microprobe RBS analyses by using a 200 kV focused ion beam system

Investigation of floating body effects in PD-SOI-MOSFET using proton microprobe

Fabrication of Nano Electron Source Using Beam-Assisted Process