記号処理を用いた論理回路の故障診断・テスト生成手法

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国立国会図書館デジタルコレクション

記号処理を用いた論理回路の故障診断・テスト生成手法

Call No. (NDL): UT51-62-V5
Bibliographic ID of National Diet Library: 000000195312
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/13037102

Material type: 博士論文

Author: 中田恒夫 [著]

Publisher: -

Publication date: -

Material Format: Paper・Digital

Capacity, size, etc.: -

Name of awarding university/degree: 東京大学,工学博士

Notes on use

Note (General)：: 博士論文

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Bibliographic Record

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Paper Digital

Material Type: 博士論文
Title: 記号処理を用いた論理回路の故障診断・テスト生成手法
Title Transcription: キゴウショリオモチイタロンリカイロノコショウシンダンテストセイセイシュホウ
Author/Editor: 中田恒夫 [著]
Author Heading: 中田, 恒夫ナカタ, ツネオ
Degree grantor/type: 東京大学
Date Granted: 昭和61年4月17日
Date Granted (W3CDTF): 1986
Dissertation Number: 甲第7192号
Degree Type: 工学博士
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
NDLC: UT51
UT31
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-62-V5
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000000195312
http://id.ndl.go.jp/bib/000000195312
Bibliographic Record Category (NDL): 213