高分解能電子顕微鏡によるSiCおよびSi[3]N[4]の構造欠陥と変形・破壊に関する研究

The cover of this title could differ from library to library.

Available with Digitized Contents Transmission Service

国立国会図書館デジタルコレクション

Available for viewing via the Digitized Contents Transmission Service for Individuals to official registered users of the NDL, who resides in Japan.

高分解能電子顕微鏡によるSiCおよびSi[3]N[4]の構造欠陥と変形・破壊に関する研究

Notes on use

Search by Bookstore

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 博士論文
Title: 高分解能電子顕微鏡によるSiCおよびSi[3]N[4]の構造欠陥と変形・破壊に関する研究
Title Transcription: コウブンカイノウデンシケンビキョウニヨル SiC オヨビ Si3N4 ノコウゾウケッカントヘンケイハカイニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 佐々木元 [著]
Author Heading: 佐々木, 元ササキ, ゲン
Degree grantor/type: 東北大学
Date Granted: 昭和63年3月25日
Date Granted (W3CDTF): 1988
Dissertation Number: 甲第3902号
Degree Type: 工学博士
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
NDLC: UT51
UT31
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-63-F251
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000000199808
http://id.ndl.go.jp/bib/000000199808
Bibliographic Record Category (NDL): 213