Deep level characterization of GaAs and AlGaAs by capacitance spectroscopy

• Material Type: 博士論文
• Title: Deep level characterization of GaAs and AlGaAs by capacitance spectroscopy
• Author/Editor: 橋詰保 [著]
• Author Heading: 橋詰, 保 ハシズメ, タモツ
• Alternative Title: 容量分光法によるGaAsおよびAlGaAsの深い準位の評価 ヨウリョウ ブンコウホウ ニ ヨル GaAs オヨビ AlGaAs ノ フカイ ジュンイ ノ ヒョウカ
• Degree grantor/type: 北海道大学
• Date Granted: 平成3年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 1991
• Dissertation Number: 乙第3905号
• Degree Type: 工学博士
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51; UT31
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-91-D392
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000238015; http://id.ndl.go.jp/bib/000000238015
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

CONTENTS

Acknowledgments

CHAPTER 1 INTRODUCTION

1.1 Historical Backgrounds

1.2 Objective of The Thesis