Deep-states characterization of hydrogenated amorphous silicon by current transient spectroscopy

• Material Type: 博士論文
• Title: Deep-states characterization of hydrogenated amorphous silicon by current transient spectroscopy
• Author/Editor: 木田浩嗣 [著]
• Author Heading: 木田, 浩嗣 キダ, ヒロツグ
• Alternative Title: 電流過渡分光法による水素化アモルファスシリコンの深い状態評価に関する研究 デンリュウ カト ブンコウホウ ニ ヨル スイソカ アモルファス シリコン ノ フカイ ジョウタイ ヒョウカ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 大阪大学
• Date Granted: 平成3年2月26日
• Date Granted (W3CDTF): 1991
• Dissertation Number: 乙第5294号
• Degree Type: 工学博士
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51; UT31
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-91-G270
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000240205; http://id.ndl.go.jp/bib/000000240205
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

TABLE OF CONTENTS

Chapter I.INTRODUCTION

1-1.Historical background

1-2.Objective of this work

Chapter Ⅱ.MACROSCOPIC DESCRIPTION OF ELECTRONIC BEHAVIOR IN AMORPHOUS SEMICONDUCTORS