VLSIメモリに対するテストの高精度化および効率化に関する研究
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Table of Contents
目次
p4
第1章 序論
p1
1.1 関連分野の歴史的背景
p1
1.2 本研究の目的
p5
1.3 本研究の内容
p7
Holdings of Libraries in Japan
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 博士論文
- Title Transcription
- VLSI メモリ ニ タイスル テスト ノ コウセイドカ オヨビ コウリツカ ニ カンスル ケンキュウ
- Author/Editor
- 西村安正 [著]
- Author Heading
- 西村, 安正 ニシムラ, ヤスマサ
- Degree grantor/type
- 大阪大学
- Date Granted
- 平成3年6月12日
- Date Granted (W3CDTF)
- 1991
- Dissertation Number
- 乙第5445号
- Degree Type
- 工学博士