Study on degradation mechanism in Ⅲ-Ⅴ semiconductor opto-electronic devices

• Material Type: 博士論文
• Title: Study on degradation mechanism in Ⅲ-Ⅴ semiconductor opto-electronic devices
• Author/Editor: 上田修 [著]
• Author Heading: 上田, 修 ウエダ, オサム
• Alternative Title: Ⅲ-Ⅴ族混晶半導体を用いた光半導体デバイスの劣化機構に関する研究 3 - 5ゾク コンショウ ハンドウタイ オ モチイタ ヒカリ ハンドウタイ デバイス ノ レッカ キコウ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 東京大学
• Date Granted: 平成2年12月13日
• Date Granted (W3CDTF): 1990
• Dissertation Number: 乙第9927号
• Degree Type: 工学博士
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51; UT31
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-91-W254
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000247568; http://id.ndl.go.jp/bib/000000247568
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

Table of contents

Chapter1 Introduction

1.1 Background-development of optical devices

1.2 Degradation of optical devices

1.3 Purpose and abstract of this study