Characterization of Ⅲ-V compound semiconductor interfaces by X-ray photoelectron spectroscopy

• Material Type: 博士論文
• Title: Characterization of Ⅲ-V compound semiconductor interfaces by X-ray photoelectron spectroscopy
• Author/Editor: 石井宏辰 [著]
• Author Heading: 石井, 宏辰 イシイ, ヒロタツ
• Alternative Title: 光電子分光法によるⅢ-V族化合物半導体界面の評価 コウデンシ ブンコウホウ ニ ヨル 3 - 5ゾク カゴウブツ ハンドウタイ カイメン ノ ヒョウカ
• Degree grantor/type: 北海道大学
• Date Granted: 平成4年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 1992
• Dissertation Number: 甲第3041号
• Degree Type: 工学博士
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51; UT31
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-92-H66
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000249591; http://id.ndl.go.jp/bib/000000249591
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

CONTENTS

Acknowledgements

Contents

CHAPTER1 Introduction1

1.1 Historical Background