外部端子における応答行列解析に基づくアナログ集積回路の故障診断に関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: 外部端子における応答行列解析に基づくアナログ集積回路の故障診断に関する研究
• Title Transcription: ガイブ タンシ ニ オケル オウトウ ギョウレツ カイセキ ニ モトズク アナログ シュウセキ カイロ ノ コショウ シンダン ニ カンスル ケンキュウ
• Author/Editor: 坂口和宏 [著]
• Author Heading: 坂口, 和宏 サカグチ, カズヒロ
• Degree grantor/type: 東京工業大学
• Date Granted: 平成5年3月26日
• Date Granted (W3CDTF): 1993
• Dissertation Number: 甲第2605号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-93-L198
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000261260; http://id.ndl.go.jp/bib/000000261260
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

論文目録

目次

第1章 序論

1.1 アナログ集積回路の故障診断の現状

1.2 研究の概要