組合せ論理回路の局所全数テストのためのテストパターン生成に関する研究
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国立国会図書館デジタルコレクション
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Table of Contents
目次
p1
1 序論
p1
1.1 本研究の背景と目的
p1
1.2 本研究の概要
p4
2 組合せ論理回路の被覆性
p6
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 博士論文
- Title Transcription
- クミアワセ ロンリ カイロ ノ キョクショ ゼンスウ テスト ノ タメ ノ テスト パターン セイセイ ニ カンスル ケンキュウ
- Author/Editor
- 道西博行 [著]
- Author Heading
- 道西, 博行 ミチニシ, ヒロユキ
- Degree grantor/type
- 岡山大学
- Date Granted
- 平成6年3月25日
- Date Granted (W3CDTF)
- 1994
- Dissertation Number
- 甲第1272号
- Degree Type
- 博士 (工学)