Studies on parallel processing for test generation of combinational circuits

• Material Type: 博士論文
• Title: Studies on parallel processing for test generation of combinational circuits
• Author/Editor: 井上智生 [著]
• Author Heading: 井上, 智生 イノウエ, トモオ
• Alternative Title: 組合せ回路に対するテスト生成の並列処理に関する研究 クミアワセ カイロ ニ タイスル テスト セイセイ ノ ヘイレツ ショリ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 明治大学
• Date Granted: 平成9年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 1997
• Dissertation Number: 乙第255号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-97-C424
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000306157; http://id.ndl.go.jp/bib/000000306157
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

Contents

1 Introduction

2 An Optimal Scheme of Parallel Test Generation on the Client-Agent-Server Model

2.1 Introduction

2.2 Test Generation Process on the Client Server Model