Surface phenomena of semiconductor materials : an investigation using Raman microscopy

• Material Type: 博士論文
• Title: Surface phenomena of semiconductor materials : an investigation using Raman microscopy
• Author/Editor: 味戸克裕 [著]
• Author Heading: 味戸, 克裕 アジト, カツヒロ
• Alternative Title: 顕微ラマン分光法を用いた半導体材料の界面現象に関する研究 ケンビ ラマン ブンコウホウ オ モチイタ ハンドウタイ ザイリョウ ノ カイメン ゲンショウ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 東京大学
• Date Granted: 平成7年9月29日
• Date Granted (W3CDTF): 1995
• Dissertation Number: 甲第11520号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-97-Q81
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000312250; http://id.ndl.go.jp/bib/000000312250
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

CONTENTS

1. INTRODUCTION

1.1. General Introduction

1.2. Fundamental Technologies used in New Micro-Raman System

1.3. Advantages of New Micro-Raman System