Jump to main content

博士論文

表面X線回折法によるシリコン表面の構造解析

Icons representing 博士論文
The cover of this title could differ from library to library. Link to Help Page

Read via the Internet

Begin reading now

国立国会図書館デジタルコレクション

表面X線回折法によるシリコン表面の構造解析

Call No. (NDL)
UT51-97-Q396
Bibliographic ID of National Diet Library
000000312565
Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/3127374
Material type
博士論文
Author
高橋正光 [著]
Publisher
-
Publication date
-
Material Format
Paper・Digital
Capacity, size, etc.
-
Name of awarding university/degree
東京大学,博士 (工学)
View All

Notes on use

Note (General)：

博士論文

Search by Bookstore

Search by Bookstore

Read this material in an accessible format.

View materials in accessible formats for people with print disabilities (1Type)

Table of Contents

Provided by：国立国会図書館デジタルコレクションLink to Help Page

  • 要旨

    p1

  • 目次

    p1

  • 1 序論

    p3

  • 1.1 シリコン表面の再構成構造

    p3

  • 1.2 表面X線回折法

    p6

Search by Bookstore

Read in Disability Resources

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper Digital

Material Type
博士論文
Title
表面X線回折法によるシリコン表面の構造解析
Title Transcription
ヒョウメン Xセン カイセツホウ ニ ヨル シリコン ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ
Author/Editor
高橋正光 [著]
Author Heading
高橋, 正光 タカハシ, マサミツ
Degree grantor/type
東京大学
Date Granted
平成8年3月29日
Date Granted (W3CDTF)
1996
Dissertation Number
甲第11836号
Degree Type
博士 (工学)