Fundamental study on hot electron interference phenomena by buried double slit in a semiconductor

• Material Type: 博士論文
• Title: Fundamental study on hot electron interference phenomena by buried double slit in a semiconductor
• Author/Editor: 本郷廣生 [著]
• Author Heading: 本郷, 廣生 ホンゴウ, ヒロオ
• Alternative Title: 半導体中埋め込みダブルスリットによるホットエレクトロン干渉現象に関する基礎的研究 ハンドウタイチュウ ウメコミ ダブル スリット ニ ヨル ホット エレクトロン カンショウ ゲンショウ ニ カンスル キソテキ ケンキュウ
• Degree grantor/type: 東京工業大学
• Date Granted: 平成9年3月26日
• Date Granted (W3CDTF): 1997
• Dissertation Number: 甲第3451号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-98-B268
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000317967; http://id.ndl.go.jp/bib/000000317967
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

論文目録

Contents

1 Introduction

1.1 Historical Background

1.2 Motivation