斜入射X線散乱による物質の表面・界面の構造解析

• Material Type: 博士論文
• Title: 斜入射X線散乱による物質の表面・界面の構造解析
• Title Transcription: シャニュウシャ Xセン サンラン ニ ヨル ブッシツ ノ ヒョウメン ・ カイメン ノ コウゾウ カイセキ
• Author/Editor: 佐藤成男 [著]
• Author Heading: 佐藤, 成男 サトウ, シゲオ
• Degree grantor/type: 東北大学
• Date Granted: 平成10年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 1998
• Dissertation Number: 甲第6505号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-98-T345
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000327014; http://id.ndl.go.jp/bib/000000327014
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

目次

第1章 緒言

参考文献

第2章 斜入射X線散乱法の原理

2.1 X線の全反射現象