Lattice location of impurities in ZnSe and GaN as studies by ion beam analysis

• Material Type: 博士論文
• Title: Lattice location of impurities in ZnSe and GaN as studies by ion beam analysis
• Author/Editor: 小林一 [著]
• Author Heading: 小林, 一 コバヤシ, ハジメ
• Alternative Title: イオンビームアナリシスによるZnSe、GaN中の不純物の格子位置解析 イオン ビー ムアナリシス ニ ヨル ZnSe GaNチュウ ノ フジュンブツ ノ コウシ イチ カイセキ
• Degree grantor/type: 京都大学
• Date Granted: 平成12年3月23日
• Date Granted (W3CDTF): 2000
• Dissertation Number: 乙第10360号
• Degree Type: 博士 (理学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2000-F426
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000352667; http://id.ndl.go.jp/bib/000000352667
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

論文目録

Contents

Abstract

Chapter1 Introduction

1-1 ZnSe and GaN semiconductors