発光・受光型半導体デバイスのミクロ欠陥による劣化に関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: 発光・受光型半導体デバイスのミクロ欠陥による劣化に関する研究
• Title Transcription: ハッコウ ジュコウガタ ハンドウタイ デバイス ノ ミクロ ケッカン ニ ヨル レッカ ニ カンスル ケンキュウ
• Author/Editor: 山口勉 [著]
• Author Heading: 山口, 勉 ヤマグチ, ツトム
• Publication, Distribution, etc.: [山口勉]
• Publication Date: 2000
• Publication Date (W3CDTF): 2000
• Extent: 1冊
• Degree grantor/type: 鳥取大学
• Date Granted: 平成12年3月24日
• Date Granted (W3CDTF): 2000
• Dissertation Number: 甲第78号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2000-P536
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000389936; http://id.ndl.go.jp/bib/000000389936
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

目次

第1章 序論

1.1 研究の背景

1.2 本研究の位置づけと目的

第2章 ミクロ欠陥のデバイス劣化への影響および素子寿命,劣化の定量的評価方法