微小角入射X線定在波法と表面X線回折法によるAs/Si(001)2×1表面構造の解析

• Material Type: 博士論文
• Title: 微小角入射X線定在波法と表面X線回折法によるAs/Si(001)2×1表面構造の解析
• Title Transcription: ビショウ カク ニュウシャ Xセン テイザイハホウ ト ヒョウメン Xセン カイセツホウ ニ ヨル As / Si ( 001 ) 2 1 ヒョウメン コウゾウ ノ カイセキ
• Author/Editor: 田中有 [著]
• Author Heading: 田中, 有 タナカ, ユウ
• Publication, Distribution, etc.: [田中有]
• Publication Date: [2000]
• Publication Date (W3CDTF): 2000
• Extent: 1冊
• Degree grantor/type: 東京工業大学
• Date Granted: 平成12年3月26日
• Date Granted (W3CDTF): 2000
• Dissertation Number: 甲第4417号
• Degree Type: 博士 (理学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2000-R369
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000393136; http://id.ndl.go.jp/bib/000000393136
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

論文目録

目次

第1章 序論

1.1 As/Si(001)表面構造

1.2 結晶表面における逆格子ロッド