静的電源電流テストにおけるテスト系列の生成及び圧縮に関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: 静的電源電流テストにおけるテスト系列の生成及び圧縮に関する研究
• Title Transcription: セイテキ デンゲン デンリュウ テスト ニ オケル テスト ケイレツ ノ セイセイ オヨビ アッシュク ニ カンスル ケンキュウ
• Author/Editor: 前田敏行 [著]
• Author Heading: 前田, 敏行 マエダ, トシユキ
• Publication, Distribution, etc.: [前田敏行]
• Publication Date: 2000
• Publication Date (W3CDTF): 2000
• Extent: 1冊
• Degree Grantor: 大阪大学
• Date Granted: 平成12年9月27日
• Date Granted (W3CDTF): 2000
• Dissertation Number: 甲第7632号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2001-A510
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000395221; http://id.ndl.go.jp/bib/000000395221
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

• DOI: 10.11501/3178608; https://doi.org/10.11501/3178608
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/3178608; https://dl.ndl.go.jp/pid/3178608
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (Materials For Handicapped People:2): プレーンテキスト
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• Producer: 国立国会図書館
• Date Accepted (W3CDTF): 2011-12-06T11:51:50+09:00
• Format (IMT): image/jp2
• Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
• Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象
• Availability of remote photoduplication service: 可
• Call No.: UT51-2001-A510
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

Table of Contents

目次

1 序論

2 論理回路のテスト

2.1 まえがき

2.2 論理回路のテスト