VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究
• Title Transcription: VLSI ノ クミコミ ジコ テスト ニ オケル テスト パターン ハッセイ カイロ ニ カンスル ケンキュウ
• Author/Editor: 浅川毅 [著]
• Author Heading: 浅川, 毅 アサカワ, タケシ
• Publication, Distribution, etc.: [浅川毅]
• Publication Date: 2001
• Publication Date (W3CDTF): 2001
• Extent: 1冊
• Degree grantor/type: 東京都立大学
• Date Granted: 平成13年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 2001
• Dissertation Number: 甲第642号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2001-P488
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000410043; http://id.ndl.go.jp/bib/000000410043
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

(論文要旨)

目次

第1章 序論

1.1 VLSIのテスト技術

1.2 BIST技術の必要性とこれまでの研究