博士論文

VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究

Icons representing 博士論文
The cover of this title could differ from library to library. Link to Help Page

Read via the Internet

Begin reading now

国立国会図書館デジタルコレクション

VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究

Call No. (NDL)
UT51-2001-P488
Bibliographic ID of National Diet Library
000000410043
Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/3189206
Material type
博士論文
Author
浅川毅 [著]
Publisher
[浅川毅]
Publication date
2001
Material Format
Paper・Digital
Capacity, size, etc.
1冊
Name of awarding university/degree
東京都立大学,博士 (工学)
View All

Notes on use

Note (General)：

博士論文

Search by Bookstore

Search by Bookstore

Read this material in an accessible format.

View materials in accessible formats for people with print disabilities (1Type)

Table of Contents

  • (論文要旨)

    p1

  • 目次

  • 第1章 序論

    p1

  • 1.1 VLSIのテスト技術

    p2

  • 1.2 BIST技術の必要性とこれまでの研究

    p6

Search by Bookstore

Read in Disability Resources

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper Digital

Material Type
博士論文
Title
VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究
Title Transcription
VLSI ノ クミコミ ジコ テスト ニ オケル テスト パターン ハッセイ カイロ ニ カンスル ケンキュウ
Author/Editor
浅川毅 [著]
Author Heading
浅川, 毅 アサカワ, タケシ
Publication, Distribution, etc.
[浅川毅]
Publication Date
2001
Publication Date (W3CDTF)
2001
Extent
1冊
Degree grantor/type
東京都立大学