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博士論文

VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究

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NDL Digital Collections

VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究

Call No. (NDL)
UT51-2001-P488
Bibliographic ID of National Diet Library
000000410043
Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/3189206
Material type
博士論文
Author
浅川毅 [著]
Publisher
[浅川毅]
Publication date
2001
Material Format
Paper・Digital
Capacity, size, etc.
1冊
Name of awarding university/degree
東京都立大学,博士 (工学)
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博士論文

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Table of Contents

Provided by：国立国会図書館デジタルコレクション

  • (論文要旨)

    p1

  • 目次

  • 第1章 序論

    p1

  • 1.1 VLSIのテスト技術

    p2

  • 1.2 BIST技術の必要性とこれまでの研究

    p6

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Paper Digital

Material Type
博士論文
Title
VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究
Title Transcription
VLSI ノ クミコミ ジコ テスト ニ オケル テスト パターン ハッセイ カイロ ニ カンスル ケンキュウ
Author/Editor
浅川毅 [著]
Author Heading
浅川, 毅 アサカワ, タケシ
Publication, Distribution, etc.
[浅川毅]
Publication Date
2001
Publication Date (W3CDTF)
2001
Extent
1冊
Degree grantor/type
東京都立大学