図書

マイクロエレクトロニクスの試験方法および手順

Icons representing 図書
The cover of this title could differ from library to library. Link to Help Page

マイクロエレクトロニクスの試験方法および手順

Call No. (NDL)
M361-25
Bibliographic ID of National Diet Library
000001143893
Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/12633117
Material type
図書
Author
米国国防省, 米航空宇宙局 [編]ほか
Publisher
日本規格協会
Publication date
1972
Material Format
Paper・Digital
Capacity, size, etc.
206p ; 21cm
NDC
549
View All

Notes on use

Note (General):

アメリカ軍規格MIL-STD-883

Search by Bookstore

Holdings of Libraries in Japan

This page shows libraries in Japan other than the National Diet Library that hold the material.

Please contact your local library for information on how to use materials or whether it is possible to request materials from the holding libraries.

Kanto

Kinki

other

  • CiNii Research

    Search Service
    Paper
    You can check the holdings of institutions and databases with which CiNii Research is linked at the site of CiNii Research.

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper Digital

Material Type
図書
Title Transcription
マイクロ エレクトロニクス ノ シケン ホウホウ オヨビ テジュン
Author/Editor
米国国防省, 米航空宇宙局 [編]
電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ 訳
Author Heading
アメリカ合衆国国防総省 アメリカ ガッシュウコク コクボウ ソウショウ ( 00276294 )Authorities
アメリカ合衆国航空宇宙局 アメリカ ガッシュウコク コウクウ ウチュウキョク ( 00276299 )Authorities
電子機械工業会 デンシ キカイ コウギョウカイ ( 00785923 )Authorities
Publication, Distribution, etc.
Publication Date
1972
Publication Date (W3CDTF)
1972
Extent
206p
Size
21cm