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マイクロエレクトロニクスの試験方法および手順

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マイクロエレクトロニクスの試験方法および手順

Call No. (NDL)
M361-25
Bibliographic ID of National Diet Library
000001143893
Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/12633117
Material type
図書
Author
米国国防省, 米航空宇宙局 [編]ほか
Publisher
日本規格協会
Publication date
1972
Material Format
Paper・Digital
Capacity, size, etc.
206p ; 21cm
NDC
549
View All

Notes on use

Note (General):

アメリカ軍規格MIL-STD-883

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Paper Digital

Material Type
図書
Title Transcription
マイクロ エレクトロニクス ノ シケン ホウホウ オヨビ テジュン
Author/Editor
米国国防省, 米航空宇宙局 [編]
電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ 訳
Author Heading
アメリカ合衆国国防総省 アメリカ ガッシュウコク コクボウ ソウショウ ( 00276294 )Authorities
アメリカ合衆国航空宇宙局 アメリカ ガッシュウコク コウクウ ウチュウキョク ( 00276299 )Authorities
電子機械工業会 デンシ キカイ コウギョウカイ ( 00785923 )Authorities
Publication, Distribution, etc.
Publication Date
1972
Publication Date (W3CDTF)
1972
Extent
206p
Size
21cm