Available with Digitized Contents Transmission Service

国立国会図書館デジタルコレクション

Available for viewing via the Digitized Contents Transmission Service for Individuals to official registered users of the NDL, who resides in Japan.

半導体デバイスの静電気破壊現象とその評価方法に関する調査研究成果報告書

Search by Bookstore

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 図書
Title: 半導体デバイスの静電気破壊現象とその評価方法に関する調査研究成果報告書
Title Transcription: ハンドウタイデバイスノセイデンキハカイゲンショウトソノヒョウカホウホウニカンスルチョウサケンキュウセイカホウコクショ
Author Heading: 日本電子部品信頼性センターニホンデンシブヒンシンライセイセンター ( 00293467 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本電子部品信頼性センター
Publication Date: 1985.3
Publication Date (W3CDTF): 1985
Extent: 87p
Size: 26cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 半導体ハンドウタイ ( 00562913 )Authorities
NDC 8th ed.: 549.8
NDLC: ND371
Target Audience: 一般
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: ND371-199
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000001787193
http://id.ndl.go.jp/bib/000001787193
National Bibliography No. (JPNO): 86026034
Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111