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35(2) (通号 82) 2004.10
- TiNおよびTiAlN薄膜の応力のX線的評価
p.20~27
- X線小角散乱法を利用したナノ粒子の粒径分布解析
p.37~42
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 雑誌
- Title
- Title Transcription
- リガク ジャーナル
- Volume
- 35巻2号(通号82) 2004年10月
- Author/Editor
- リガクジャーナル編集委員会 編
- Author Heading
- リガク リガク ( 01069789 )Authorities
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2004
- Publication Date (W3CDTF)
- 2004
- Year and volume of publication
- 35巻1号 = 81号 (Apr. 2004)-39巻2号 = 90号 (autumn 2008)