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高集積密度半導体素子を利用した中性子照射損傷ダイナミクスの研究

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高集積密度半導体素子を利用した中性子照射損傷ダイナミクスの研究

Call No. (NDL)
Y151-H04680229
Bibliographic ID of National Diet Library
000006989558
Material type
図書
Author
飯田, 敏行, 大阪大学
Publisher
-
Publication date
1992-1993
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General)：

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
図書
Title
高集積密度半導体素子を利用した中性子照射損傷ダイナミクスの研究
Title Transcription
コウシュウセキ ミツド ハンドウタイ ソシ オ リヨウ シタ チュウセイシ ショウシャ ソンショウ ダイナミクス ノ ケンキュウ
Author/Editor
飯田, 敏行, 大阪大学
Author Heading
著者 ： 飯田, 敏行 イイダ, トシユキ ( 01015281 )Authorities
大阪大学 オオサカ ダイガク ( 00296951 )Authorities
Publication Date
1992-1993
Publication Date (W3CDTF)
1992
Extent
冊
Additional Title
研究種目 一般研究(C)
Subject Heading
高集積密度半導体素子 コウシユウセキミツドハンドウタイソシ
中性子照射損傷 チユウセイシシヨウシヤソンシヨウ
損傷ダイナミクス ソンシヨウダイナミクス
半導体メモリIC ハンドウタイメモリIC
ソフトエラー ソフトエラー
ビツトソフトエラー断面積 ビツトソフトエラーダンメンセキ
CMOS SRAM IC CMOSSRAMIC
Si (n, α) Mg反応 SI (N, アルフア) MGハンノウ