図書

電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討

Icons representing 図書

電子デバイス用バルク単結晶中の欠陥形成過程の検討

Call No. (NDL)
Y151-H09650813
Bibliographic ID of National Diet Library
000007057335
Material type
図書
Author
柿本, 浩一, 九州大学
Publisher
-
Publication date
1997-1999
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
View All

Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

Search by Bookstore

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper

Material Type
図書
Title Transcription
デンシ デバイスヨウ バルクタンケッショウ チュウ ノ ケッカン ケイセイ カテイ ノ ケントウ
Author/Editor
柿本, 浩一, 九州大学
Author Heading
柿本, 浩一 カキモト, コウイチ
Publication Date
1997-1999
Publication Date (W3CDTF)
1997
Extent
Additional Title
研究種目 基盤研究(C)
Subject Heading
シリコン シリコン
分子動力学 ブンシドウリキガク
酸素 サンソ
拡散係数 カクサンケイスウ