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図書

極微細半導体素子での基板電流ゆらぎに伴う素子寿命不確定性抑制の研究

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極微細半導体素子での基板電流ゆらぎに伴う素子寿命不確定性抑制の研究

Call No. (NDL)
Y151-H10555115
Bibliographic ID of National Diet Library
000007072080
Material type
図書
Author
佐野, 伸行, 筑波大学
Publisher
-
Publication date
1998-2000
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
ゴク ビサイ ハンドウタイ ソシ デ ノ キバン デンリュウユラギ ニ トモナウ ソシ ジュミョウ フカクテイセイ ヨクセイ ノ ケンキュウ
Author/Editor
佐野, 伸行, 筑波大学
Author Heading
佐野, 伸行 サノ, ノブユキ
Publication Date
1998-2000
Publication Date (W3CDTF)
1998
Extent
Additional Title
研究種目 基盤研究(B)
Subject Heading
衝突イオン化 シヨウトツイオンカ
MOSFET MOSFET
モンテカルロ法 モンテカルロホウ
シミユレーシヨン シミユレーシヨン
半導体デバイス ハンドウタイデバイス
素子寿命 ソシジユミヨウ
ホツトキヤリア ホツトキヤリア
電流ノイズ デンリユウノイズ