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赤外光弾性法を用いた半導体結晶中の格子欠陥内部応力その場観察法の開発

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赤外光弾性法を用いた半導体結晶中の格子欠陥内部応力その場観察法の開発

Call No. (NDL)
Y151-H11555162
Bibliographic ID of National Diet Library
000007073270
Material type
図書
Author
東田賢二, 九州大学
Publisher
-
Publication date
1999-2000
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
セキガイ ヒカリダンセイホウ オ モチイタ ハンドウタイ ケッショウ チュウ ノ コウシ ケッカン ナイブ オウリョク ソノ バ カンサツホウ ノ カイハツ
Author/Editor
東田賢二, 九州大学
Author Heading
東田, 賢二 ヒガシダ, ケンジ
Publication Date
1999-2000
Publication Date (W3CDTF)
1999
2000
Extent
Additional Title
研究種目 基盤研究(B)
Subject Heading
赤外線 セキガイセン
光弾性 コウダンセイ
シリコン シリコン
格子欠陥 コウシケツカン
転位 テンイ