超LSI信頼性確保を目的とした微細金属薄膜配線の高密度電子流による断線故障予測法

Call No. (NDL): Y151-H15560058
Bibliographic ID of National Diet Library: 000007966562

Material type: 図書

Author: 笹川和彦, 弘前大学 [著]

Publisher: [笹川和彦]

Publication date: 2003-2004

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 8, 62p

NDC: -

View All

Notes on use

Note (General)：: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

Search by Bookstore

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper

Material Type: 図書
Title: 超LSI信頼性確保を目的とした微細金属薄膜配線の高密度電子流による断線故障予測法
Title Transcription: チョウLSI シンライセイカクホオモクテキトシタビサイキンゾクハクマクハイセンノコウミツドデンシリュウニヨルダンセンコショウヨソクホウ
Author/Editor: 笹川和彦, 弘前大学 [著]
Author Heading: 笹川, 和彦ササガワ, カズヒコ
弘前大学ヒロサキダイガク
Publication, Distribution, etc.: [笹川和彦]
Publication Date: 2003-2004
2005.3
Publication Date (W3CDTF): 2003
2004
Extent: 8, 62p
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Subject Heading: 電子パッケージ / エレクトロマイグレーション / 金属薄膜配線 / 断線故障 / バンブー配線 / 保護膜 / 数直シミュレーション / 支配パラメータデンシパッケージ / エレクトロマイグレーション / キンゾクハクマクハイセン / ダンセンコショウ / バンブーハイセン / ホゴマク / スウチョクシミュレーション / シハイパラメータ
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 15560058
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H15560058
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000007966562
http://id.ndl.go.jp/bib/000007966562
Bibliographic Record Category (NDL): 214