駄目パターンに学ぶ失敗しないソフトウエアテスト実践ノウハウ
駄目パターンに学ぶ失敗しないソフトウエアテスト実践ノウハウ
- Call No. (NDL)
- M154-M101
- Bibliographic ID of National Diet Library
- 029943270
Detailed bibliographic record
Summary, etc.：
- ソフトウエアテストの生産性を上げ、ソフトウエア品質を効率良く高めるために必要な知識やノウハウを解説します。(Provided by: 出版情報登録センター（JPRO）)
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Table of Contents
第1章 これだけは押さえるテストの基本
1-1 ソフトウエア品質とは何か
1-2 テスト工程の基本
1-3 テスト計画
1-4 テスト設計
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札幌市中央図書館
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- 007.63/ﾎ/
- Book Registration Number：
- 1310382278
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- 007.63/2019.9
- Book Registration Number：
- 1011742036
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- 007.6-9453-2019
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- 7112151649
神奈川県立川崎図書館
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- 007.61-254
- Book Registration Number：
- 81729295
横浜市立図書館
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- Book Registration Number：
- 2065242080
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 図書
- ISBN
- 978-4-296-10357-7
- Title Transcription
- ダメ パターン ニ マナブ シッパイ シナイ ソフトウエア テスト ジッセン ノウハウ
- Author/Editor
- 細田俊明, 金井高子, 村松俊幸, 吉澤麻由 監修SHIFT品質・技術統轄部技術推進部 品質プラットフォーム推進部 著
- Author Heading
- 細田, 俊明 ホソダ, トシアキ ( 001332436 )Authorities金井, 高子 カナイ, タカコ ( 001332437 )Authorities村松, 俊幸 ムラマツ, トシユキ ( 001332438 )Authorities
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2019.9
- Publication Date (W3CDTF)
- 2019
- Extent
- 175p