何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

• Material Type: 図書
• ISBN: 978-4-7795-1704-4
• Title: 何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び
• Title Transcription: ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
• Author/Editor: ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル 著; 東村知子, 鮫島輝美 訳
• Author Heading: 著者 ： Gergen, Kenneth J ( 00677026 )Authorities; 著者 ： Gill, Scherto ( 032701730 )Authorities; 訳者 ： 東村, 知子 ヒガシムラ, トモコ ( 00978734 )Authorities; 訳者 ： 鮫島, 輝美, 1968- サメシマ, テルミ, 1968- ( 001312460 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: 京都 : ナカニシヤ出版 (出版)
• Publication Date: 2023.3
• Publication Date (W3CDTF): 2023
• Extent: 223p
• Size: 21cm
• Additional Title: BEYOND THE TYRANNY OF TESTING
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Original Text Lang. Code: eng
• Content Type: テキスト
• Media Type: 機器不用
• Carrier Type: 冊子
• Subject Heading: 教育評価 キョウイクヒョウカ ( 00567152 )Authorities
• NDC 10th ed.: 371.7 : Theory of education
• NDLC: FC63
• Target Audience: 一般
• Note (General): 原タイトル: BEYOND THE TYRANNY OF TESTING
• Note (Bibliography): 索引あり
• Price: 2500円
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: FC63-M96
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 032632818; http://id.ndl.go.jp/bib/032632818
• National Bibliography No. (JPNO): 23808846
• TOHAN MARC No.: 34438343
• Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules 2018 Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 111

• Summary, etc.: そのテスト、本当に必要ですか？ 社会構成主義の大家ガーゲンが教育学者ギルとタッグを組み、私たちを教育の思い込みから解放する。(Provided by: 出版情報登録センター（JPRO）)
• Author introduction: ケネス・J・ガーゲン 1957年イェール大学心理学部を卒業、1962年デューク大学心理学部で博士号を取得。ハーバード大学助教授を経て、1967年よりペンシルバニア州スワースモア大学心理学部の助教授、1971年より同教授。現在、同大学Senior Research Professor。社会構成主義の第...

Table of Contents

日本語版への序文

第１章　テストの暴力的支配を超える

工場のメタファーと評価による統治

関係を手がかりとして教育評価を考える─根底からの変革

テストと成績評価を点検する