フィールドテストのための完全デジタル温度電圧モニタに関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: フィールドテストのための完全デジタル温度電圧モニタに関する研究
• Author/Editor: 三宅, 庸資
• Author Heading: 三宅, 庸資
• Publication Date: 2016-06-30
• Publication Date (W3CDTF): 2016-06-30
• Alternative Title: A Fully-Digital Temperature and Voltage Monitor for Field Teat
• Contributor: 梶原, 誠司
• Degree grantor/type: 九州工業大学
• Date Granted: 2016-06-30
• Date Granted (W3CDTF): 2016-06-30
• Dissertation Number: 甲第314号
• Degree Type: 博士（情報工学）
• Conferring No. (Dissertation): 甲情工第314号
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: フィールドテスト; デジタル回路; 温度電圧モニタ; リングオシレータ; NBTI劣化
• Target Audience: 一般
• Note (General): 第1章 序論; 第2章 LSI のテストと信頼性; 第3章 リングオシレータを利用した温度電圧測定; 第4章 温度電圧モニタ回路; 第5章 試作チップによる評価; 第6章 結論; 九州工業大学博士学位論文 学位記番号:情工博甲第314号 学位授与年月日:平成28年6月30日; 平成28年度
• DOI: 10.18997/00006069; https://doi.org/10.18997/00006069
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/10342631; https://dl.ndl.go.jp/pid/10342631
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
• Date Accepted (W3CDTF): 2017-05-02T23:17:13+09:00
• Date Created (W3CDTF): 2017-03-31
• Format (IMT): PDF; application/pdf
• Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
• Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
• Availability of remote photoduplication service: 可
• Periodical Title (URI): https://doi.org/10.18997/00006069; http://hdl.handle.net/10228/00006069
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• Summary, etc.: VLSIの高機能化や高性能化，製造プロセスの微細化など，半導体製造技術の進歩の一方で，物理的な劣化現象が信頼性に影響を及ぼす重大な要因となっている．そのため，劣化による故障を事前に検知し，障害発生による突然のシステムダウンを回避することが重要となる．劣化の進行はシステムの運用状況に依存するため製造テ...

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