誘導結合プラズマ質量分析法による固体試料直接定量分析のための新しいレーザーアブレーションシステムの開発

• Material Type: 記事
• Title: 誘導結合プラズマ質量分析法による固体試料直接定量分析のための新しいレーザーアブレーションシステムの開発
• Author/Editor: 石田,智治; 秋吉,孝則; 坂下,明子; 城代,哲史; 藤本,京子; 千野,淳
• Publication, Distribution, etc.: 日本 : 日本分析化学会
• Publication Date: 2006-04-05
• Publication Date (W3CDTF): 2006-04-05
• Alternative Title: New Laser Ablation System for Quantitative Analysis of Solid Samples by ICP-MS
• Periodical title: 分析化学
• No. or year of volume/issue: 55(4)
• Volume: 55(4)
• Pages: 229-236
• Text Language Code: JPN
• Alias of Author: ISHIDA,Tomoharu; AKIYOSHI,Takanori; SAKASHITA,Akiko; KINOSHIRO,Satoshi; FUJIMOTO,Kyoko; CHINO,Atsushi
• Subject Heading: laser ablation; repetitive radiation; ICP-mass spectrometry; fractionation
• Note (General): 著者所属: JFEスチール株式会社スチール研究所; 著者所属: 現在所属 日本鉄鋼連盟標準化センター事務局; 著者所属: JFEテクノリサーチ株式会社分析・評価事業部京浜事業所; Affiliation: Analysis & Characterization Research Dept., Steel Research Laboratory, JFE Steel Corporation; Affiliation: Standardization Center, The Japan Iron and Steel Federation; Affiliation: Analysis & Characterization Division, JFE Techno-Research Corporation; Affiliation: Analysis & Characterization Research Dept, Steel Research Laboratory, JFE Steel Corporation
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/10896381; https://dl.ndl.go.jp/pid/10896381
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• Acquisition Basis: NII-ELS
• Available (W3CDTF): 2017-08-30
• Date Accepted (W3CDTF): 2017-08-22
• Date Captured (W3CDTF): 2017-08-22
• Format (IMT): application/pdf
• Access Restrictions: インターネット公開
• Availability of remote photoduplication service: 不可
• Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/10399618; https://dl.ndl.go.jp/pid/10399618
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• Summary, etc.: 誘導結合プラズマ質量分析(ICP-MS)装置を用いた金属材料の高感度な直接分析を目的として,新たなレーザーアブレーション(LA)システムを開発した.装置は繰り返し周波数の高いQスイッチレーザーと,試料表面の適切な大きさの領域に対して隙(すき)間なくビームの集光スポットを走査させるための2枚のスキャン...