ナノスケール半導体デバイスにおけるヴァーチャルメトロロジー技術を用いた最先端製造技術の実用化
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 記事
- Author/Editor
- 今井伸一安田哲
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2009-10
- Publication Date (W3CDTF)
- 2009-10
- Alternative Title
- Practical application of leading-edge manufacturing technology using virtual metrology for nano-scale semiconductor devices
- Periodical title
- パナソニック技報
- No. or year of volume/issue
- 55(3)
- Volume
- 55(3)
- Text Language Code
- jpn
- Persistent ID (NDL)
- info:ndljp/pid/11012537
- Collection
- Collection (Materials For Handicapped People:1)
- Collection (particular)
- 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
- Acquisition Basis
- インターネット資料収集保存事業(WARP)
- Date Accepted (W3CDTF)
- 2018-01-10T20:06:13+09:00
- Date Captured (W3CDTF)
- 2017-04-15
- Format (IMT)
- application/pdf
- Access Restrictions
- インターネット公開
- Availability of remote photoduplication service
- 不可
- Periodical Title (URI)
- Periodical Title (Persistent ID (NDL))
- info:ndljp/pid/11012526
- Data Provider (Database)
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション