中性子耐性を考慮した電子デバイスの高信頼化技術および安全技術に関する研究

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11092370

Material type: 博士論文

Author: 鳥羽, 忠信

Publisher: 長岡技術科学大学

Publication date: 2018-03-26

Material Format: Digital

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Name of awarding university/degree: 国立大学法人長岡技術科学大学,博士（工学）

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Digital

Material Type: 博士論文
Title: 中性子耐性を考慮した電子デバイスの高信頼化技術および安全技術に関する研究
Author/Editor: 鳥羽, 忠信
Publication, Distribution, etc.: 長岡技術科学大学
Publication Date: 2018-03-26
Publication Date (W3CDTF): 2018-03-26
Contributor: 教授（主査）　平尾裕司、教授　安井寛治、教授　門脇敏、教授　福田隆文、准教授　木村哲也
Degree grantor/type: 国立大学法人長岡技術科学大学
Date Granted: 2018-03-26
Date Granted (W3CDTF): 2018-03-26
Dissertation Number: 甲第851号
Degree Type: 博士（工学）
Conferring No. (Dissertation): 甲第851号
Text Language Code: jpn
NDC: 500
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11092370
https://dl.ndl.go.jp/pid/11092370
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
Date Accepted (W3CDTF): 2018-05-04T12:13:37+09:00
Date Created (W3CDTF): 2018-08-03
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Periodical Title (URI): http://hdl.handle.net/10649/908
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp