電子顕微鏡を用いたGaN層中の欠陥構造に関する研究

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11216876

Material type: 博士論文

Author: 松原, 徹

Publisher: -

Publication date: 2017

Material Format: Digital

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Name of awarding university/degree: 山口大学,博士(工学)

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Digital

Material Type: 博士論文
Title: 電子顕微鏡を用いたGaN層中の欠陥構造に関する研究
Author/Editor: 松原, 徹
Publication Date: 2017
Publication Date (W3CDTF): 2017
Alternative Title: Study of defect structure in GaN layer using electron microscopy
デンシケンビキョウオモチイタ GaN ソウチュウノケッカンコウゾウニカンスルケンキュウ
Degree grantor/type: 山口大学
Date Granted: 2017-09-29
Date Granted (W3CDTF): 2017-09-29
Dissertation Number: 理工博甲第729号
Degree Type: 博士(工学)
Conferring No. (Dissertation): 理工博甲第729号
Text Language Code: jpn
Note (General): 博士(工学)
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11216876
https://dl.ndl.go.jp/pid/11216876
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
Date Accepted (W3CDTF): 2019-01-04T08:16:43+09:00
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Periodical Title (URI): http://www.lib.yamaguchi-u.ac.jp/yunoca/handle/DT12100729
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp