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電子顕微鏡を用いたGaN層中の欠陥構造に関する研究
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 博士論文
- Author/Editor
- 松原, 徹
- Publication Date
- 2017
- Publication Date (W3CDTF)
- 2017
- Alternative Title
- Study of defect structure in GaN layer using electron microscopyデンシ ケンビキョウ オ モチイタ GaN ソウチュウ ノ ケッカン コウゾウ ニ カンスル ケンキュウ
- Degree grantor/type
- 山口大学
- Date Granted
- 2017-09-29
- Date Granted (W3CDTF)
- 2017-09-29
- Dissertation Number
- 理工博甲第729号