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アモルファス酸化物半導体In-Ga-Zn-O薄膜トランジスタにおける電気的欠陥が信頼性に与える影響に関する研究
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国立国会図書館デジタルコレクション
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DOI[10.34413/dr.01558]to the data of the same series
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- Material Type
- 博士論文
- Title Transcription
- アモルファス サンカブツ ハンドウタイ In-Ga-Zn-O ハクマク トランジスタ ニ オケル デンキテキ ケッカン ガ シンライセイ ニ アタエル エイキョウ ニ カンスル ケンキュウ
- Author/Editor
- 越智, 元隆
- Author Heading
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2018-03-23
- Publication Date (W3CDTF)
- 2018-03-23
- Alternative Title
- Study on Electrical Defects in Amorphous In-Ga-Zn-O Thin Film Transistor Reliability
- Degree grantor/type
- 奈良先端科学技術大学院大学