XRTmicronによる単結晶基板の欠陥組織評価

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Material Type: 記事
Title: XRTmicronによる単結晶基板の欠陥組織評価
Author/Editor: 稲葉克彦
Publication, Distribution, etc.: 日本 : リガク
Publication Date: 2020-04-21
Publication Date (W3CDTF): 2020-04-21
Periodical title: リガクジャーナル
No. or year of volume/issue: 51(1)
Volume: 51(1)
ISSN (Periodical Title): 1883-8456
ISSN-L (Periodical Title): 0913-302X
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11489699
https://dl.ndl.go.jp/pid/11489699
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00035
Acquisition Basis: オンライン資料収集制度
Date Accepted (W3CDTF): 2020-05-21T21:24:28+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2020-05-21
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Periodical Title (URI): https://www.rigaku.co.jp/dpi/members/j113
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/11492430
https://dl.ndl.go.jp/pid/11492430
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp