Physics of soft error due to radiation-induced noise under the buried oxide layer in SOI devices

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国立国会図書館デジタルコレクション

Physics of soft error due to radiation-induced noise under the buried oxide layer in SOI devices

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Material Type: 博士論文
Title: Physics of soft error due to radiation-induced noise under the buried oxide layer in SOI devices
Author/Editor: Chung Chin-Han
Publication, Distribution, etc.: Chung Chin-Han
Publication Date: 2018
Publication Date (W3CDTF): 2018
Alternative Title: SOIデバイス埋め込み酸化膜下で発生したノイズに起因するソフトエラーの物理
Degree grantor/type: 東京大学
Date Granted: 2018-09-14
Date Granted (W3CDTF): 2018-09-14
Dissertation Number: 甲第35430号
Degree Type: 博士(工学)
Text Language Code: eng
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11816015
https://dl.ndl.go.jp/pid/11816015
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
Acquisition Basis: 博士論文（送信）
Date Accepted (W3CDTF): 2021-10-18T20:30:36+09:00
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp