Studies on Circuit Layout Analysis for the Reliability of LSI Devices

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11929687

Material type: 博士論文

Author: ナガムラ, ヨシカズほか

Publisher: -

Publication date: 2021-03-25

Material Format: Digital

Capacity, size, etc.: -

Name of awarding university/degree: 東京都立大学,博士（工学）

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Digital

Material Type: 博士論文
Title: Studies on Circuit Layout Analysis for the Reliability of LSI Devices
Author/Editor: ナガムラ, ヨシカズ
永村, 美一
Nagamura, Yoshikazu
Author Heading: ナガムラ, ヨシカズ
永村, 美一
Nagamura, Yoshikazu
Publication Date: 2021-03-25
Publication Date (W3CDTF): 2021-03-25
Alternative Title: LSIデバイスの信頼性のための回路レイアウト解析手法に関する研究
Degree grantor/type: 東京都立大学
Date Granted: 2021-03-25
Date Granted (W3CDTF): 2021-03-25
Dissertation Number: 甲第1050号
Degree Type: 博士（工学）
Conferring No. (Dissertation): 甲第1050号
Text Language Code: eng
NDLC: UT51
Target Audience: 一般
Note (General): 開始ページ : 1
終了ページ : 122
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11929687
https://dl.ndl.go.jp/pid/11929687
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
Date Accepted (W3CDTF): 2021-12-07T08:33:55+09:00
Date Created (W3CDTF): 2021-10-18
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Periodical Title (URI): http://hdl.handle.net/10748/00012445
https://tokyo-metro-u.repo.nii.ac.jp/records/9085
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp