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博士論文

Planar型およびFinFET型SRAMにおける地上放射線起因シングルイベントアップセットに関する実験的研究

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Planar型およびFinFET型SRAMにおける地上放射線起因シングルイベントアップセットに関する実験的研究

Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/12219426
Material type
博士論文
Author
黒木, 貴志
Publisher
-
Publication date
2021-03-24
Material Format
Digital
Capacity, size, etc.
-
Name of awarding university/degree
大阪大学,博士(情報科学)
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Note (General):

T. Kato et al., "Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization With Neutrons and Alpha Particles," in IEEE Transaction...

Table of Contents

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  • 2022-11-07 再収集

  • 2023-03-07 再収集

  • 2023-09-07 再収集

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Digital

Material Type
博士論文
Title Transcription
プレーナーガタオヨビフィンフェットガタエスラムニオケルチジョウホウシャセンキインシングルイベントアップセットニカンスルジッケンテキケンキュウ
Author/Editor
黒木, 貴志
Author Heading
Publication Date
2021-03-24
Publication Date (W3CDTF)
2021-03-24
Alternative Title
An Experimental Study on Terrestrial Radiation-Induced Single Event Upsets in Planar and FinFET SRAMs
Degree grantor/type
大阪大学
Date Granted
2021-03-24