LSI実装時半断線故障に対する電流テストによる検出可能性の評価

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/12318967

Material type: 記事

Author: 月本功ほか

Publisher: 香川高等専門学校

Publication date: 2019-06

Material Format: Digital

Journal name: 独立行政法人国立高等専門学校機構香川高等専門学校研究紀要 (10)

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Digital

Material Type: 記事
Title: LSI実装時半断線故障に対する電流テストによる検出可能性の評価
Author/Editor: 月本功
安藤健太
須崎晴登
Publication, Distribution, etc.: 日本 : 香川高等専門学校
Publication Date: 2019-06
Publication Date (W3CDTF): 2019-06
Alternative Title: Evaluation of detectability for resistive open fault on soldered LSI by supply current test method
Periodical title: 独立行政法人国立高等専門学校機構香川高等専門学校研究紀要
No. or year of volume/issue: (10)
Volume: (10)
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/12318967
https://dl.ndl.go.jp/pid/12318967
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00033
Acquisition Basis: インターネット資料収集保存事業（WARP）
Date Accepted (W3CDTF): 2022-09-02T15:14:41+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2022-04-09
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 不可
Note (Availability): 本資料は、印刷できません。
Periodical Title (URI): https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/12232415/www.kagawa-nct.ac.jp/libraryI/kagawakiyou/10/mokuji10.html
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/12318962
https://dl.ndl.go.jp/pid/12318962
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp