パターン認識技術の検査への応用

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Material Type: 記事
Title: パターン認識技術の検査への応用
Author/Editor: 秋山伸幸
磯田賢一
烏野武
Publication, Distribution, etc.: 日本 : 日立評論社
Publication Date: 1977-11
Publication Date (W3CDTF): 1977-11
Alternative Title: Application of pattern recognition technology for inspection
Periodical title: 日立評論
No. or year of volume/issue: 59(11)
Volume: 59(11)
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/12737000
https://dl.ndl.go.jp/pid/12737000
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00035
Acquisition Basis: インターネット資料収集保存事業（WARP）
Date Accepted (W3CDTF): 2023-03-16T20:52:22+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2022-03-21
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Availability of remote photoduplication service: 不可
Periodical Title (URI): https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/12199112/www.hitachihyoron.com/jp/archive/1970s/1977/11.html
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/12736993
https://dl.ndl.go.jp/pid/12736993
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp