電子・イオン・光ビームを用いた半導体集積回路の故障解析に関する研究
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Table of Contents
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目次
p4
第1章 序論
p7
1.1 研究の背景
p7
1.2 電子・イオン・光ビームを用いた半導体集積回路の故障解析技術の現状
p10
1.3 従来の研究と本論文との関係-ニーズ面から-
p12
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 博士論文
- Title Transcription
- デンシ イオン ヒカリ ビーム オ モチイタ ハンドウタイ シュウセキ カイロ ノ コショウ カイセキ ニ カンスル ケンキュウ
- Author/Editor
- 二川清 [著]
- Author Heading
- 二川, 清 ニカワ, キヨシ
- Degree Grantor
- 大阪大学
- Date Granted
- 平成7年10月4日
- Date Granted (W3CDTF)
- 1995
- Dissertation Number
- 乙第6725号
- Degree Type
- 博士 (工学)
- Note (Dissertation)
- 博士論文
- Place of Publication (Country Code)
- JP
- NDLC
- Note (General)
- 博士論文
- Holding library
- 国立国会図書館
- Call No.
- UT51-96-A319
- Data Provider (Database)
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
- Bibliographic ID (NDL)
- 000000292753
- Bibliographic Record Category (NDL)
- 213
- DOI
- 10.11501/3108039
- Persistent ID (NDL)
- info:ndljp/pid/3108039
- Collection
- Collection (Materials For Handicapped People:1)
- Collection (Materials For Handicapped People:2)
- Collection (particular)
- 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
- Producer
- 国立国会図書館
- Date Accepted (W3CDTF)
- 2011-12-05T14:32:59+09:00
- Format (IMT)
- image/jp2
- Access Restrictions
- 国立国会図書館内限定公開
- Service for the Digitized Contents Transmission Service
- 図書館・個人送信対象
- Availability of remote photoduplication service
- 可
- Call No.
- UT51-96-A319
- Data Provider (Database)
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション