光応答測定による半導体内部構造解析方法

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/3510673

Material type: 記事

Author: 一番ヶ瀬剛

Publisher: 大島商船高等専門学校

Publication date: 2009-12

Material Format: Digital

Journal name: 独立行政法人国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校紀要 (42)

Publication Page: -

View All

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Digital

Material Type: 記事
Title: 光応答測定による半導体内部構造解析方法
Author/Editor: 一番ヶ瀬剛
Publication, Distribution, etc.: 日本 : 大島商船高等専門学校
Publication Date: 2009-12
Publication Date (W3CDTF): 2009-12
Extent: 容量 : 04.pdf(554331bytes)
Alternative Title: Analytic method of the optical response mode for semiconductor materials
Periodical title: 独立行政法人国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校紀要
No. or year of volume/issue: (42)
Volume: (42)
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/3510673
https://dl.ndl.go.jp/pid/3510673
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00033
Acquisition Basis: インターネット資料収集保存事業（WARP）
Date Accepted (W3CDTF): 2012-07-19T03:57:08+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2010-03-07
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Availability of remote photoduplication service: 不可
Periodical Title (URI): https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/997733/www.oshima-k.ac.jp/kakari/tosho/kiyou/kiyou42/japanese_index.html
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/3510669
https://dl.ndl.go.jp/pid/3510669
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp