多波長レーザースクイド顕微鏡による半導体の評価

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8896020

Material type: 記事

Author: 大坊真洋ほか

Publisher: 岩手県

Publication date: 2002

Material Format: Digital

Journal name: 岩手県工業技術センター研究報告 (9)

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Bibliographic Record

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Digital

Material Type: 記事
Title: 多波長レーザースクイド顕微鏡による半導体の評価
Author/Editor: 大坊真洋
泉田福典
志子田有光
Publication, Distribution, etc.: 日本 : 岩手県
Publication Date: 2002
Publication Date (W3CDTF): 2002
Alternative Title: Evaluation of semiconductors using multi-wavelength laser SQUID microscope
Periodical title: 岩手県工業技術センター研究報告
No. or year of volume/issue: (9)
Volume: (9)
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8896020
https://dl.ndl.go.jp/pid/8896020
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 地方公共団体 > 都道府県 > 岩手県
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00049
Acquisition Basis: インターネット資料収集保存事業（WARP）
Date Accepted (W3CDTF): 2015-01-08T20:31:20+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2008-12-22
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Availability of remote photoduplication service: 不可
Periodical Title (URI): https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/233157/www.pref.iwate.jp/~kiri/infor/theme/2001/result13.htm
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/8896015
https://dl.ndl.go.jp/pid/8896015
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp