A Study on Circuit Design for Low-Voltage and Soft-Error Resilient SRAM in Nanometer CMOS Technology

• Material Type: 博士論文
• Title: A Study on Circuit Design for Low-Voltage and Soft-Error Resilient SRAM in Nanometer CMOS Technology
• Author/Editor: Yoshimoto, Shusuke
• Author Heading: Yoshimoto, Shusuke
• Publication Date: 2013-09-25
• Publication Date (W3CDTF): 2013-09-25
• Alternative Title: ナノメートルCMOSにおける低電圧・耐ソフトエラーSRAMに向けた回路設計技術に関する研究
• Degree grantor/type: 神戸大学
• Date Granted: 2013-09-25
• Date Granted (W3CDTF): 2013-09-25
• Dissertation Number: 甲第5946号
• Degree Type: 博士（工学）
• Conferring No. (Dissertation): 甲第5946号
• Text Language Code: eng
• Alias of Author: 吉本, 秀輔; ヨシモト, シュウスケ
• Target Audience: 一般
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8951952; https://dl.ndl.go.jp/pid/8951952
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
• Available (W3CDTF): 2015-03-03
• Date Accepted (W3CDTF): 2015-02-03T05:25:05+09:00
• Date Created (W3CDTF): 2014-09-01
• Format (IMT): PDF; application/pdf
• Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
• Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
• Availability of remote photoduplication service: 可
• Periodical Title (URI): https://hdl.handle.net/20.500.14094/D1005946
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

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2015-07-01 再収集