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博士論文

移動度スペクトル解析法を用いた歪シリコン及び歪ゲルマニウム中のキャリア散乱機構の解明(本文)

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移動度スペクトル解析法を用いた歪シリコン及び歪ゲルマニウム中のキャリア散乱機構の解明(本文)

Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/9425900
Material type
博士論文
Author
田中, 貴久
Publisher
慶應義塾大学大学院理工学研究科
Publication date
2015-03-23
Material Format
Digital
Capacity, size, etc.
-
Name of awarding university/degree
慶應義塾大学,博士(工学)
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type:text

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  • 2019-09-04 再収集

  • 2021-03-07 再収集

  • 2023-03-07 再収集

  • 2023-09-02 再収集

Bibliographic Record

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Digital

Material Type
博士論文
Author/Editor
田中, 貴久
Author Heading
Publication, Distribution, etc.
Publication Date
2015-03-23
Publication Date (W3CDTF)
2015-03-23
Alternative Title
イドウド スペクトル カイセキホウ オ モチイタ ヒズミシリコン オヨビ ヒズミゲルマニウムチュウ ノ キャリア サンラン キコウ ノ カイメイ (ホンブン)
Idodo supekutoru kaisekiho o mochiita hizumishirikon oyobi hizumigerumaniumuchu no kyaria sanran kiko no kaimei (honbun)
Characterization of carrier scattering mechanisms in strained silicon and strained germanium based on the mobility spectrum analysis
Degree grantor/type
慶應義塾大学
Date Granted
2015-03-23