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偏光分析 CMOSイメージセンサとマイクロリアクタ用 in situ 不斉計測システムへの応用に関する研究
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DOI[10.34413/dr.01216]to the data of the same series
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- Material Type
- 博士論文
- Title Transcription
- ヘンコウ ブンセキ CMOS イメージ センサ ト マイクロ リアクタヨウ in situ フセイ ケイソク システム エノ オウヨウ ニ カンスル ケンキュウ
- Author/Editor
- 若間, 範充
- Author Heading
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2014-03-24
- Publication Date (W3CDTF)
- 2014-03-24
- Alternative Title
- Application of in situ chiral analysis system using polarization-analyzing CMOS image sensor for micro-reactor systems
- Degree grantor/type
- 奈良先端科学技術大学院大学